XTD-镀锡铜线锡层测厚仪

       纯铜因为优良的导电性在电力、电器行业里有着广泛的用途，但也因为纯铜表面非常容易和空气产生化学反应产生绿色的氧化铜，也称铜绿，但铜绿会影响铜线的导电性等各方面性能。

       所以根据客户的需要，一般都会在铜线上镀锡，因为锡是一种比较惰性的金属，不容易与空气中的水分产生化学反应，在铜线上镀锡层后就可以把铜和空气隔离开来，大大降低了铜被氧化的速度，增加铜线的使用寿命，而且导电性也不错，价格也相对便宜，所以虽然镀银一样可以起到保护铜不被氧化导电性能又好，但综合考虑还是镀锡层更为合适。

镀锡铜线

       镀锡层可以很好的保护铜线不被氧化，但在电镀加工的时候，镀的太厚会影响铜线的导电性，也会增加电镀的成本。镀的太薄的话，可能起不到保护作用，影响铜线的使用寿命，所以镀锡层厚度也是镀锡铜线的一个重要的性能指标。

       根据不同客户的使用需要，有不同规格的镀锡铜线，线径也从几个mm到0.1mm不等，所以要测量镀锡层的厚度，就要考虑到线径较小的镀锡铜线，以前在镀锡铜线的生产过程中，经常用到电解式测厚仪来检测，但是测量的过程比较麻烦，而且误差也比较大，如果对产品精度的要求不高，在考虑成分的情况下，电解式测厚仪也是一种比较好的选择。

       现在很多的客户对产品的要求也相当的高，所以常规的电解式测厚仪很难达到客户的要求，所以就要用到更精确的测厚仪器，我们推荐使用X射线镀层测厚仪，不仅测量精确高，而且可以对铜线进行无损检测，既便捷又快速。镀锡铜线锡层测厚仪是生产镀锡铜线的厂家或是电镀加工厂家及铜线使用企业很好的检测仪器。

镀锡铜线锡层测厚仪​ XTD-200

       这是一款全新一代的X荧光测厚仪，*应对表面处理的检测解决方案仪器，被广泛应用于电镀及表面处理加工厂家、铜线铜排生产厂家、电器生产厂家和五金产品、电子元器件等生产厂家。

性能优势：

全新一代EFP算法，可以检测多层多元素、各种元素及有机物，还具备测量同种元素在不同层的检测，例如可以直接检测出磁性材料及铁基镀镍铜镍中双层镀镍层的厚度。

多准直器任意切换，仪器配置了0.05mm、0.1mm、0.2mm和0.5mm四种准置器，可以很好的应对线径0.1mm的镀锡铜线的锡层厚度的测量。

自动对焦，高低大小样品可快速清晰对焦，大大减少了测量时间

技术参数：

1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）

2. 涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）

3. 厚度*低检出限：0.005μm

4. 成分*低检出限：1ppm

5. 测量直径0.05mm（测量面积0.002mm²）

6. 对焦距离：0-90mm

7. 样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm

8. 仪器尺寸：760mm*550mm*635mm

9. 仪器重量：100KG