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仪表网供应网 分析检测 光学测量 荧光检测器X-射线镀层测厚及金属分析仪
更新时间:2024-03-04
有效日期:还剩131天
产品详情
FiScherSCOp® X—RAY Systenl XDL® 一B及 XDLM@—C4是采用全新数学计算方法来进行镀层厚度 的计算, 在加强的软件功能之下, 简化了测量比较复 杂镀层的程序, 甚至可以在不需要标准片之下, 一样 可以测量。 它还采用*的焦距距离计算办法(DCM), 操作 员现在可以随时改变焦距测量, 对一些形状复杂的工 件尤其方便。 FiSCherSCOp® X—RAY System XDL® 一B及XDLM® —C4功能包括: 特 大及槽口式的测量箱、 向下投射式X—射 线, 方便对位测量、软件在视窗98下操 作、 可在同一屏幕清楚显示测量读数及 工件的位置。
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