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全自动影像测量仪

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  • 广东东莞市

更新时间:2024-03-20

有效日期:还剩356

产品详情

FiScherSCOp® X—RAY Systenl XDL® B
XDLM@—C4
是采用全新数学计算方法来进行镀层厚度
的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复
杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样
可以测量。
它还采用*的焦距距离计算办法(DCM)操作
员现在可以随时改变焦距测量,对一些形状复杂的工
件尤其方便。

FiSCherSCOp
® X—RAY System XDL® BXDLM® —C4功能包括:
大及槽口式的测量箱、向下投射式X—
线,方便对位测量、软件在视窗98下操
作、可在同一屏幕清楚显示测量读数及
工件的位置。
 
Fischerscop@X—RAY System XDL@BXDLM@C4的设计是专门测量金属镀层厚度的
仪器,它是采用WinFTMV3的软件,计算方面用了新的FP(FUrldamental Parameter)
DCM(Distance Con“olled Measurement)
及强大的电脑功能, X—RAY XDL —BXDLM —
C4
已经可以在不使用标准片调校仪器之下,一样可以进行测量。

应用方面:
罩性金属镀层厚度测量,例如ZnCr Cu Ag Au Sn合金两样金属元素镀层厚度测量,例如: SnPb ZnNiNiP(无电浸镍
Fe
上等
合金三檬金属元素镀层厚度测量,例交口: AuCuCdNi上等
双镀层厚度测量,例如:AuNiCu 上; CrNiCu上;AuAqNi上;
Sn
Cu在黄铜上等
双镀层厚度测量其中一层是合金层例如: SnPbNiAuPdNi在青铜上等
三镀层,例如: CrNiCu在塑胶或在铁上
金属成份分析,多可以分析四种金属元素

规格:
主机——650mmx570mmx740mrn55kg
测量箱一高300mmx460mmx500mm
XDL@—B
圆形准值器一中03mm
XDLM@—C4
4倜准值器一中01 mmO2mm
03mm005X03mm
X
一射线向下投射
主机上有直接测量键
可调校X一射线管高压: 30kV40kV50kV
彩色显示测量位置,焦距距离计算办法(DCM)
焦距调节为80mm
外置式电脑(Pentium或同级VGA彩色屏幕
可选配自动或手动的测量台

 

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广东艾思荔检测仪器有限公司

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主营产品:
高低温老化试验箱,三综合试验箱,高压加速老化试验箱,恒温恒湿试验箱,冷热冲击试验箱
公司性质:
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