供应X-射线镀层测厚及金属分析仪EX-3000,其他试验箱-仪表网

产品详情

Fischerscop® X-RAY System
×DL® -B及×DLM® -C4是采用技术标
准ASTM及B568，DIN60987， ISO
3497的×一射线荧光分析法来进行测
量，不但可以测量金属层厚度及金属之
间的比重，还可以进行金属物料分析。

Fischerscop® X-RAY Systenl ×DL® 一B及
×DLM@-C4是采用全新数学计算方法来进行镀层厚度
的计算，在加强的软件功能之下，简化了测量比较复
杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样
可以测量。
它还采用*的焦距距离计算办法（DCM），操作
员现在可以随时改变焦距测量，对一些形状复杂的工
件尤其方便。

Fischerscop® X-RAY System ×DL® 一B及×DLM® -C4功能包括：特
大及槽口式的测量箱、向下投射式×-射
线，方便对位测量、软件在视窗98下操
作、可在同一屏幕清楚显示测量读数及

工件的位置。

Fischerscop@X-RAY System ×DL@一B及×DLM@一C4的设计是专门测量金属镀层厚度的仪器，它是采用WinFTMV．3的软件，计算方面用了新的FP（Fundamental Parameter）、DCM（Distance Controlled Measurement）及强大的电脑功能， X-RAY ×DL -B及×DLM - C4已经可以在不使用标准片调校仪器之下，一样可以进行测量。

应用方面:
●罩性金属镀层厚度测量，例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au；Sn等合金（两样金属元素）镀层厚度测量，例如： SnPb； ZnNi；及NiP（无电浸镍）在Fe上等
●合金（三檬金属元素）镀层厚度测量，例如： AuCuCd在Ni上等
●双镀层厚度测量，例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Aq在Ni上；Sn／Cu在黄铜上等
●双镀层厚度测量（其中一层是合金层），例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等
●三镀层，例如： Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上
●金属成份分析，多可以分析四种金属元素

规格:
●主机--高650mm×阔570mm×深740mm；重55kg
●测量箱一高300mm×阔460mm×深500mm
●×DL®-B：圆形准值器一Φ0．3mm
●×DLM®-C4：4倜准值器一Φ0．1 mm； ΦO，2mm；
●Φ0．3mm及0．05×0．3mm
●×一射线向下投射
●主机上有直接测量键
●可调校X一射线管高压： 30kV，40kV或50kV
●彩色显示测量位置，焦距距离计算办法（DCM）大
●焦距调节为80mm
●外置式电脑（Pentium或同级）及VGA彩色屏幕
●可选配自动或手动的测量台