XRF9能量色散X射线荧光分析仪

     XRF9能量色散X射线荧光分析仪采用薄样技术与厚样技术相结合的方式，既可以对大量样品进行无损检测，也可以对块状固体，固体粉末和液体样品等进行实验室级别的元素分析。特别适宜于针对RoHS指令的多元素测试。

特点：

· 采用多光束可调节系统

· 高分辨率探测器

· 采用XYZ三维运动样品台

· 大型样品分析室

· CCD摄像及自动定位系统

· 自动调节双层六通道滤光系统

XRF9能量色散X射线荧光分析仪物理原理
     当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质放射出的辐射，这是原子的能量特性。

主要技术指标

分析原理 能量色散X射线荧光分析法

分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）

Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）

检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm

样品形状 大460×380mm(高150mm)

样品 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体

样品室气氛 大气

X射线管 靶材 Rh

管电压 大50KV

管电流 大1mA

X射线照射径 　 1/3/5mm

防护 <0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕）

检测器 硅SIPIN探测器

光学图像观察 　 倍率15倍

软件 定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移）

照射径： 1/3/5mm

定量分析： 基础参数法/标准法/1点校正

计算机 CPU PentiumIV1.8GHz以上

内存 256MB以上

硬盘 20GB以上

OS WindowXP

监视器 17寸LCD

周围温度 10～35。C（性能温度）/5～40。C（动作温度）

周围湿度 5～31。C时温度范围：大相对湿度80%以下

31～40。C时温度范围：相对湿度50%以下

电源 AC110V/220V±10%、50/60HZ

消耗电力 1.3KVA以下（含计算机、LCD、打印机）

设备重量 约65kg(不含桌子、计算机）

外形寸法 600（W）×545（D）×435（H）mm