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更新时间:2024-03-04
有效日期:还剩157天
产品详情
荧光膜厚计特点: 中文视窗操作测量系统 解析度0.001um, 小测量面积0.1mmΦ 可测量合金层之厚度和组成比例 可测量两层以上镀层之个别厚度 藉由光谱分析可判定被测物之元素 适用对象:1C导线架,封装业、PCB业、精密零 件业、电镀业、电子业。
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