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仪表网供应网 实验仪器 其他实验仪器 其它仪器X-射线镀层测厚仪
更新时间:2024-03-04
有效日期:还剩157天
产品详情
FiScherSCOp® X—RAY System XDL® —B及XDLM® —C4是采用技术标 准ASTM及B568,DIN60987, ISO 3497的X一射线荧光分析法来进行测 量, 下但可以测量金属层厚度及金属之 间的比重, 还可以进行金属物料分析。 FiScherSCOp® X—RAY Systenl XDL® 一B及 XDLM@—C4是采用全新数学计算方法来进行镀层厚度 的计算, 在加强的软件功能之下, 简化了测量比较复 杂镀层的程序, 甚至可以在不需要标准片之下, 一样 可以测量。 它还采用*的焦距距离计算办法(DCM), 操作 员现在可以随时改变焦距测量, 对一些形状复杂的工 件尤其方便。 FiSCherSCOp® X—RAY System XDL® 一B及XDLM® —C4功能包括: 特大及槽口式的测量箱、 向下投射式X—射线, 方便对位测量、软件在视窗98下操作、 可在同一屏幕清楚显示测量读数及工件的位置。
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