ZT-30A-S-低压循环冷热冲击测试箱

一、低压循环冷热冲击测试箱用途：

    适用于国防工业,航空工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑 胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业及相关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验（冲击），适应于仪器、仪表、电工、电子产品整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组无一不需要它的理想测试工具.

二、低压循环冷热冲击测试箱控制方式与特色

　  利用低温及高温蓄冷热储存槽，依动作需要打开DAPER，达到快速冲击效果；平衡调温控制系统（BTC），以P.I.D.方式控制SSR，使系统之加热量等于热损耗量，故能长期稳定使用。

三、技术参数：

1、 温度范围：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃

2、 温度上限：+170℃

3、 温度下限：-70℃

4、 温度偏差：±2℃

5、 温度波动度：±0.5℃

6、 温度恢复时间：5min

7、 温度恢复条件：高温+150℃保温≥30min低温-40℃保温≥30min.

8、 试品转移方式：采用气动

9、试品重量：≤5kg

10、高温室升温时间：30min （+25℃～+170℃）

11、低温室降温时间：65min （+25℃～-55℃）

12、噪音：（dB）≤65

13、电源：AC380V±10％/50/60Hz+保护接地

14、总功率：13KW