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产品详情
X-Strata920 优质X射线测厚仪
仪器介绍
X-Strata920镀层测厚仪：又称X射线荧光镀层测厚仪，是能量色散X射线荧光（EDXRF）技术的大型台式测厚仪，是牛津仪器CMI900系列镀层测厚仪的升级产品，将取代CMI900系列产品。能进行非破坏、非接触，快速无损测量，在10秒内得出测量结果，可进行多层合金测量，具有高生产力优点，是质量管理、成本节约有力的检测工具。
适用范围
用于电子元器件、半导体、PCB、FPC、LED支架、连接器、端子、卫浴洁具、五金件、汽车零部件、首饰饰品、装饰件、功能性电镀……多个行业表面镀层厚度的测量；
测量镀层，金属涂层，薄膜的厚度或液体（镀液的成分分析）组成。
主要特点
可测元素范围：钛Ti22---铀U92；
可测定5层（4层镀层 底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；
进行贵金属检测，如Au karat评价；
材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；
测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin；
强大的数据统计、处理功能，测量结果输出多样化；
拥有NIST认证的标准片；
提供服务及。
测量精度
膜厚范围 | *层（zui上层） | 第二层 | 第三层 |
小于0.5 µm （20 µin） | 1 µin 或更好 | 2 µin 或更好 | 3 µin 或更好 |
大于0.5 µm | 5% 或更好 | 10% 或更好 | 15% 或更好 |
含量 | *层 | 第二层 |
1--99 wt % |
| 3 wt % 或更好 |
工作原理
对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
测厚范围
取决于镀层的具体应用。
优质X射线测厚仪
技术参数
项目名称 | 具体描述 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X射线激发系统 | ·垂直下照式X射线光学系统 ·50W（50kV，1.0mA）空冷式微聚焦型钨W靶X射线管 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
准直器系统 | ·单准直器组件； ·多准直器自动控制组件：zui多可同时装配6种规格的准直器 ·园形、正方形、矩形和多种规格尺寸准直器任选（红色为常用的）：
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测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
样品室 | 开槽式样品室，测量大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的线路板 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
样 品 台 |
固定样品台 ·Z轴自动控制，移动行程：43mm （1.7"），XY轴手动控制 ·zui大样品高度33mm ·仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×305mm（16×30.3×12"） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
加深样品台 ·Z轴自动控制，移动行程：43mm （1.7"），XY轴手动控制 ·zui大样品高度160mm ·样品仓有4个位置卡槽，相邻卡槽垂直间距25.4mm，样品台支架可放置在不同位置的卡槽上，可测不同高度的样品 ·样品仓内部尺寸（宽×深×高）：279×508×152mm（11×20×6”） ·仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×400mm（16×30.3×15.7"） ·自定义样品台：依据客户要求提供更高的样品台，满足高度＞160mm的样品测量，仓内设置多个位置卡槽，相邻卡槽垂直间距25.4mm
自动样品台 ·Z轴自动控制，移动行程：43mm（1.7"） ·XY轴自动控制，样品台移动行程：178×178mm（7x7”） ·zui大样品高度33mm ·样品台尺寸（宽×深）：610×560mm（24×22”） ·仪器外形尺寸（宽×深×高）：610×1037×375mm（24×40.8×14.8"） ·可提供对样品的自动和编程控制，多点测量 ·鼠标控制样品台移动，精确地定位样品测量点 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
镭射聚焦 |
·单击鼠标，Z轴自动扫描 ·Z轴自动聚焦到焦距12.7mm，同时将样品图像定焦（显示在屏幕上） ·避免了人为操作误差 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
样品观察系统 | ·高分辨率彩色CCD观察系统，标准光学放大倍数为30倍 ·可选50倍和100倍观察系统 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
结果输出 | ·测量数据报告可直接打印或一键导出到PDF文件、Excel文件，为质量管理保留宝贵的原始资料 ·测量数据报告可包含测量数据、测量样品图像、各种统计分析图表、自定义的报告模板（系统预置模板、含用户信息的自制模板） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
计算机系统配置 | ·IBM计算机 ·佳能彩色喷墨打印机 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
分析应用软件 | ·操作系统：Windows XP中文平台 ·分析软件包：SmartLink FP软件包 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
系统安全性 | ·Z轴保护传感器 ·安全防射线光闸 ·样品室门开闭传感器 ·X射线锁 ·X射线警示灯 ·紧急停止按钮 ·前面板安全钮和后面板安全锁 ·多用户密码保护，只向日常操作员设定有限的*，操作界面简单，功能受限 ·主管人员可进行系统维护
·开启“自动锁定”功能可以防止未*人员使用；测量结束后，超过预设的时*，软件锁定并要求输入密码 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
测量自动化功能 | 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot” | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
测量位置预览功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
激光对焦和自动对焦功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
统计计算功能 | 平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
数据分组、X-bar/R图表、直方图 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
数据库存储功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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