产品详情
CMI900膜厚计、膜厚测试仪测量原理:
X射线源辐射强度的大小,与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度,为了确定其所需的X射线能量值,可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任一特殊厚度时,系统将设定X射线的能量值,使检测能够顺利完成。
在厚度一定的情况下,X射线的能量值为常量。当安全快门打开,X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过,被测钢板将一部分能量吸收,剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收,探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度,则所吸收的X射线量也将改变,这将使探头所接收的X射线量发生变化,检测信号也随之发生相应的变化。
分析仪器部作为牛津仪器(OXFORDINSTRUMENTS)的中国区域一级代理商已十多年,拥有专业销售及维修工程师,备有充足零配件储备,专注于CMI系列测厚仪器产品在国内的销售与维护。为全国各地的电路板,半导体,连接器,汽车,五金等制造厂商及高校,科研机构,质量检测中心等广大客户提供快捷、良好的售前及售后服务和。CMI900膜厚计、膜厚测试仪
本公司销售:
测厚仪 膜厚仪 膜厚测试仪 X射线测厚仪 镀层测厚仪 镀层厚度检测仪 X荧光测厚仪 电镀测厚仪 膜厚测量仪 无损测厚仪 金属测厚仪 镀膜测厚仪 金镍测厚仪 铜厚测量仪 仪器附件 CMI900膜厚计、膜厚测试仪